通用光度立体（Photometric Stereo, PS）旨在在任意光照条件下恢复高质量的表面法线，而不依赖于特定的光照模型。尽管近年来取得了如SDM-UniPS和Uni MS-PS等进展，但仍存在两个基本挑战：1) 变化光照与表面法线特征之间的深度耦合问题，其中观察到的强度模糊性使得难以确定亮度变化是由光照变化还是表面方向引起的；2) 在复杂表面上保留高频几何细节的问题，复杂的几何结构会产生自阴影、互反射和细微的法线变化，而传统的特征处理操作难以准确捕捉这些细节。